ct设备测试(什么是ITC测试)

大家好,今天小编来为大家解答以下的问题，关于ct设备测试，什么是ITC测试这个很多人还不知道，现在让我们一起来看看吧！

本文目录

1. ct8600 线材测试仪 使用说明书
2. 什么是ITC测试
3. ct设备的发展经历了哪几个主要阶段

一、ct8600 线材测试仪 使用说明书

大多数测试人员，如所用的接线现场认证测试仪器，在技术上非常复杂。为了确保准确，高效，测试结果认证检测的权威机构，我们必须仔细选择合适的用户需要测试仪。现场电缆测试仪有两个主要功能：第一，测试或验证电气布线的传输性能;第二个故障排除布线系统。

，要求用户使用他的能力，同时测试认证和故障查找。主要功能测试是通过各种测试来确定链路的布线的布线是否标准，如果没有，它示出了布线链路故障。故障排除和测试设备诊断功能是查找并分析其失败的决定的能力。这些测试功能允许用户纠正在最短的时间排除故障的接线错误。解决布线故障后，最好的办法就是再次连接认证测试，以确保线路达到指定的标准。

不能用于化验检测设备，实验室级的精度只能靠近现场测试仪使用，所以可追溯性测试仪准确度和精密度的问题是非常重要的。 TSB-67标准明确规定了这种精度现场测试仪的水平，无论是测试基本链路或通道，如综合布线认证测试设备必须满足两个精度。制造商声称精度指标由独立的认证机构承认，用户是无法测试的透彻了解仪器的技术问题，所以UL等第三方独立认证机构进行生产和测试设备的质量保证指标，是最有说服力的方式。在选择测试仪器，用户可以询问独立认证的厂家的问题提问。

另外请注意，测试设备可跟踪问题的精度。认证作为一种高精密的测试仪器，按照标准的要求测量，精密测试设备必须可追溯。所谓可追溯性，是有一整套的流程和方法，仪器的精度可以追溯到国家（国际）标准。精密测试设备，测试设备是确定基本授权和精度是有限的时间，在一般情况下，试验机的精度只能存放期为6个月至一年。所以，当你选择五类网线这样的精密测试设备，供应商希望获得可追溯性的证据，并要求仪器的过程和方法和校准溯源至国际标准，以确保您的测试设备采购公正性和权威性。

故障诊断领域的测试仪器应该要提供一系列的故障定位布线系统已经在一个单独的电缆或错误被发现的能力。诊断或排除故障测试，应携带的距离和测试设备。

天地行下一步的测试方法结合数字脉冲与数字信号处理技术。它完全可以以图形方式显示串扰的测试案例是链接。模拟频率扫描技术来测量整体下一页链接的价值，因此，测试只能报告给该链接的“合格”或“不合格”的结果给用户。采用TDX技术，测试设备的一个非常重要的优势可能表明该链接位置更高的信号串扰的发生。

技术支持和服务

检查测试设备制造商能够提供全面，专业，快捷的技术支持和服务，而且还可以选择测试仪的一个重要方面。它还包括是否这些本地化的支持和服务，维修和升级能够真正本地化等。校准测试仪是否将其返回到原来的工厂？对于这些问题，很少有主动测试设备制造商到用户的指令，但用户必须明确的问题来。

其他测试仪是用于现场测试，其设计应根据施工现场环境的前提下，所以最好有一个现场测试仪良好的抗恶劣环境能力。电源管理能力也应该关注，使用户在测试仪突然没电了几个小时后不想要的，而且所有的测试结果都存储都不见了。

理想测试仪

从技术角度来看，理想的电缆测试仪，应首先满足通道和基本链路的二次精度的性能要求;从更实际的角度来看，又是一个更快的测试速度。此外，测试人员可以为用户提供帮助寻找接线故障诊断是非常重要的能力。由于测试的目的是为了获得一个良好的链路，而不是区分好坏。测试设备必须能够在链路故障坏件的位置，迅速通知用户，这是一个非常有价值的功能。其他需要考虑的因素测试结果可以转储打印，使用简单，支持其他类型的电缆测试。

厂商测试产品

SimpliFiber的是一个低成本的光源和功率计用于单模和多模光纤损耗的精确测量。 SimpliFiber的耐用和手掌大小的设计是简单易用。它可以测量多种波长，测量结果可以被存储，则可以自动设定的波长范围内。 Scanlink使用自由软件打印专业的测试报告。套装包括：850/1300 nm的光源，光功率计，手提箱，电脑连接线，AA电池，清洁布，Scanlink软件，多语言手册。

它的主要特点如下：

◆手掌大小，耐用的设计。

◆为850/1300 nm的LED光源测量一次在两个波长，是一种多波长850/1300/1310/1550 nm的功率计。

◆有1310 nm的单模激光光源做测量。

◆有1550 nm的单模激光光源做测量。

◆自动识别波长。

◆电池寿命长。

◆有SC和ST连接器的选项。

◆存储100个测试结果。

◆Scanlink方便地与数据传输的个人电脑。

◆多语言用户手册。

◆Scanlink检测报告编号，丢失，或电源。

DSP-FTA410S光缆测试适配器

DSP-FTA410S光缆测试适配器可以同时测试两个线，大大减少了所需的光缆认证测试的时候，你也可以同时在两条电缆双向测试，测试结果自动存储在同一份报告。与功能FindFiber它可以从电缆两端的任何一端，另一端检测到信号，节省了大量的时间来找到正确的电缆连接。此外，它可以自动地使用两种波长850nm和1300nm的多模光纤测试，无需调节测试波长。

DSP-FTA410S管理测试结果可以存储测试适配器电缆和铜在同一个测试数据库的DSP-4000，以便于网络用户整个布线系统的一个清晰的认识。所有的测试结果可以直接打印，它可以被下载到PC，以便在未来的进一步分析和统计。其主要特点如下：

◆同时测试两个多模光缆，光纤光缆，以提高认证测试。

◆两个双向光纤测试同步（测试结果自动存储在相同的报告）。

◆测试电缆的光功率损耗，长度和传输延迟。

◆内置在所有大国的标准（包括千兆以太网标准）。

◆850nm和1300nm的自动两种波长的多模光纤测试。

◆查找信号的光纤职能另一端可以在电缆的两端进行检测。

◆支持的DSP-4000的语音功能，可实现远程调用通过光纤电缆。

◆与福禄克LS-1310/1550激光光源单模光缆可测试的功率损耗。

◆坚固（包括嵌入式SC连接器）。

DSP-4000/4100数字式电缆分析仪

DSP-4000设计用于基于当前的行业标准认证和更高的标准，在未来的高速铜缆布线和网络用户和光缆是专为认证布线系统，故障诊断，高速网络升级，移动等后检查用户电缆，布线链路的变化，重新认证。

DSP-4000带有一个可扩展的数字化平台，确保它符合新的标准。而且，仅仅与DSP-FTA410S测试适配器电缆连接，您就可以开始光缆认证测试。 DSP-4000支持新的标准要求所有的测试，如：NEXT，ELFEXT，综合近端串扰，综合等效远端串扰，衰减，衰减串扰比，延迟，偏移和回波损耗等，测试能力高达350MHz。

DSP-4000采用数字技术远远超过了模拟测试仪的性能：

◆标准为未来增加新的测试参数。

◆先进的故障排除功能：HDTDX，HDTDR。

◆最多的测试能力，350MHz的最大带宽。

◆提高光缆测试选项的性能。

◆快速的测试速度。

微扫描器PRO

微扫描器PRO的住房在结构化布线设计，其布线测试功能来检查布线结构化布线，指出存在的问题与缺陷对，不只检测短路，开路，反向，交错的故障，而且还可以检测出分叉对。它的功能来测量电缆的整个长度的长度，除了核实交货和库存，而且该电缆的短路或开路位置时，每对的显示长度，当连接到轮毂的另一端如果，也显示集线器图标。它使用时域反射计（TDR）方法，以确保数据长度的可靠性，并且传播速度可以校正固定电缆（NVP）。其办公/位置定位的房间功能，就可以知道从配线架的电缆的另一端的具体位置。它的音频传输功能，可在墙壁，地板，天花板和电线电缆找到隐藏。

其主要特点如下：

◆测试同轴电缆和双绞线。

◆能区分10/100集线器。

◆可在半双工或全双工网络之间的区别。

◆允许毂灯闪闪发光。

◆检查配线位置。

◆识别短路，开路，反向，并在错误的脚踩在断层线分叉。

◆无需外接其他配件就可以直接测试跳线。

◆测量电缆（双绞线和同轴电缆）的长度，包括线，用于接收在轮毂的长度。

◆台湾存托凭证采用专利技术做微量法精密长度测量。

◆产生的墙壁，地板，天花板和布线找到隐藏在电缆的内部之间四个不同的音频信号。当

◆当您移动，添加，用于配对电缆改变办事处的电缆。

◆袖珍耐用。

二、什么是ITC测试

Q:什么是ICT测试技术？ICT测试技术是什么意思？\x0d\x0a\x0d\x0aICT是 In Circuit Tester的缩写，中文名称为在线测试仪，是一种电路板自动检测仪器，又称为静态测试仪(因它只输入很小的电压或电流来测试，不会损坏电路板)。它能够在短短几秒内测出电路板的好坏，并指出坏在哪一个区域及哪一个零件。将您公司产品在生产线造成的不良因素，如锡桥，错件、反插等问题?一一的检查出，大大提高效率和品质。（您再也不需长时间埋头苦干，用示波器、万用表等慢慢查找故障所在?） \x0d\x0a\x0d\x0a在线测试，ICT，In-Circuit Test，是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。 \x0d\x0a\x0d\x0a飞针ICT基本只进行静态的测试，优点是不需制作夹具，程序开发时间短。 \x0d\x0a\x0d\x0a针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高，但对每种单板需制作专用的针床夹具，夹具制作和程序开发周期长。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT的范围及特点 \x0d\x0a检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory类、常用驱动类、交换类等IC。 \x0d\x0a\x0d\x0a它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断线等故障。 \x0d\x0a\x0d\x0a测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上，故障定位准确。对故障的维修不需较多专业知识。采用程序控制的自动化测试，操作简单，测试快捷迅速，单板的测试时间一般在几秒至几十秒。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT与人工测试比较之优点 \x0d\x0a1、缩短测试时间：一般组装电路板如约300个零件ICT的大约是3-4秒钟。 \x0d\x0a\x0d\x0a2、测试结果的一致性：ICT的质量设定功能，能够透过电脑控制，严格控制质量。 \x0d\x0a\x0d\x0a3、容易检修出不良的产品：ICT有多种测试技术，高度的可靠性，检测不良品种、且准确。 \x0d\x0a\x0d\x0a4、测试员及技术员水平需求降低：只要普通操作员，即可操作与维修。 \x0d\x0a\x0d\x0a5、减省库存、备频、维修库存压力、大大提高生产成品率。 \x0d\x0a\x0d\x0a6、大大提升品质。减少产品的不良率，提高企业形象。\x0d\x0a\x0d\x0aICT主要测试电路板的开短路、电阻、电容、电感、二极管、三极管、电晶体、IC等无件！\x0d\x0a\x0d\x0a早期，业内将ATE设备也归在ICT这一类别中，但因ATE测试相对复杂，而且还包含了上电后的功能测试，象TTL、OPAMP、Frequency、TREE、BSCAN、MEMORY等，所以将ATE独立为另一个类别了！\x0d\x0a\x0d\x0a基本上所在的大型电路生产商都要用到ICT测试，象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等！\x0d\x0a\x0d\x0a全球最大的ICT测试设备生产厂商是安捷伦，其它还有德律（TRI）、泰瑞达、星河等. \x0d\x0a\x0d\x0a在线测试通常是生产中第一道测试工序，能及时反应生产制造状况，利于工艺改进和提升。ICT测试过的故障板,因故障定位准，维修方便，可大幅提高生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体，是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。\x0d\x0a\x0d\x0aICT测试理论的一些简介\x0d\x0a1.1模拟器件测试 \x0d\x0a利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有： \x0d\x0a\x0d\x0a∵Ix= Iref \x0d\x0a\x0d\x0a∴Rx= Vs/ V0*Rref \x0d\x0a\x0d\x0aVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0，则Rx可求出。 \x0d\x0a\x0d\x0a若待测Rx为电容、电感，则Vs交流信号源，Rx为阻抗形式，同样可求出C或L。 \x0d\x0a\x0d\x0a1.2隔离（Guarding） \x0d\x0a上面的测试方法是针对独立的器件，而实际电路上器件相互连接、相互影响，使Ix_ref，测试时必须加以隔离（Guarding）。隔离是在线测试的基本技术。 \x0d\x0a\x0d\x0a在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix_ref，Rx= Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时，只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际实用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点，消除外围电路对测试的影响。 \x0d\x0a\x0d\x0a1.2 IC的测试 \x0d\x0a对数字IC，采用Vector（向量）测试。向量测试类似于真值表测量，激励输入向量，测量输出向量，通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。 \x0d\x0a\x0d\x0a如:与非门的测试 \x0d\x0a\x0d\x0a对模拟IC的测试，可根据IC实际功能激励电压、电流，测量对应输出，当作功能块测试。 \x0d\x0a\x0d\x0a2非向量测试 \x0d\x0a随着现代制造技术的发展，超大规模集成电路的使用，编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间，如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用，使器件引脚开路的故障现象变得更加突出。为此各公司非向量测试技术，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量测试技术。 \x0d\x0a\x0d\x0a2.1 DeltaScan模拟结测试技术 \x0d\x0aDeltaScan利用几乎所有数字器件管脚和绝大多数混合信号器件引脚都有的静电放电保护或寄生二极管，对被测器件的独立引脚对进行简单的直流电流测试。当某块板的电源被切断后，器件上任何两个管脚的等效电路如下图中所示。 \x0d\x0a\x0d\x0a1在管脚A加一对地的负电压，电流Ia流过管脚A之正向偏压二极管。测量流过管脚A的电流Ia。 \x0d\x0a\x0d\x0a2保持管脚A的电压，在管脚B加一较高负电压，电流Ib流过管脚B之正向偏压二极管。由于从管脚A和管脚B至接地之共同基片电阻内的电流分享，电流Ia会减少。 \x0d\x0a\x0d\x0a3再次测量流过管脚A的电流Ia。如果当电压被加到管脚B时Ia没有变化（delta），则一定存在连接问题。 \x0d\x0a\x0d\x0aDeltaScan软件综合从该器件上许多可能的管脚对得到的测试结果，从而得出精确的故障诊断。信号管脚、电源和接地管脚、基片都参与DeltaScan测试，这就意味着除管脚脱开之外，DeltaScan也可以检测出器件缺失、插反、焊线脱开等制造故障。 \x0d\x0a\x0d\x0aGenRad类式的测试称Junction Xpress。其同样利用IC内的二极管特性，只是测试是通过测量二极管的频谱特性（二次谐波）来实现的。 \x0d\x0a\x0d\x0aDeltaScan技术不需附加夹具硬件，成为首推技术。 \x0d\x0a\x0d\x0a2.2 FrameScan电容藕合测试 \x0d\x0aFrameScan利用电容藕合探测管脚的脱开。每个器件上面有一个电容性探头，在某个管脚激励信号，电容性探头拾取信号。如图所示： \x0d\x0a\x0d\x0a1夹具上的多路开关板选择某个器件上的电容性探头。 \x0d\x0a\x0d\x0a2测试仪内的模拟测试板（ATB）依次向每个被测管脚发出交流信号。 \x0d\x0a\x0d\x0a3电容性探头采集并缓冲被测管脚上的交流信号。 \x0d\x0a\x0d\x0a4 ATB测量电容性探头拾取的交流信号。如果某个管脚与电路板的连接是正确的，就会测到信号；如果该管脚脱开，则不会有信号。 \x0d\x0a\x0d\x0aGenRad类式的技术称Open Xpress。原理类似。 \x0d\x0a\x0d\x0a此技术夹具需要传感器和其他硬件，测试成本稍高。 \x0d\x0a\x0d\x0a3 Boundary-Scan边界扫描技术 \x0d\x0aICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。为此，联合测试组织（JTAG）颁布了IEEE1149.1测试标准。 \x0d\x0a\x0d\x0aIEEE1149.1定义了一个扫描器件的几个重要特性。首先定义了组成测试访问端口（TAP）的四（五〕个管脚：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。测试方式选择（TMS）用来加载控制信息；其次定义了由TAP控制器支持的几种不同测试模式，主要有外测试（EXTEST）、内测试（INTEST）、运行测试（RUNTEST）；最后提出了边界扫描语言（Boundary Scan Description Language），BSDL语言描述扫描器件的重要信息，它定义管脚为输入、输出和双向类型，定义了TAP的模式和指令集。 \x0d\x0a\x0d\x0a具有边界扫描的器件的每个引脚都和一个串行移位寄存器（SSR）的单元相接，称为扫描单元，扫描单元连在一起构成一个移位寄存器链，用来控制和检测器件引脚。其特定的四个管脚用来完成测试任务。 \x0d\x0a\x0d\x0a将多个扫描器件的扫描链通过他们的TAP连在一起就形成一个连续的边界寄存器链，在链头加TAP信号就可控制和检测所有与链相连器件的管脚。这样的虚拟接触代替了针床夹具对器件每个管脚的物理接触，虚拟访问代替实际物理访问，去掉大量的占用PCB板空间的测试焊盘，减少了PCB和夹具的制造费用。 \x0d\x0a\x0d\x0a作为一种测试策略，在对PCB板进行可测性设计时，可利用专门软件分析电路网点和具扫描功能的器件，决定怎样有效地放有限数量的测试点，而又不减低测试覆盖率，最经济的减少测试点和测试针。 \x0d\x0a\x0d\x0a边界扫描技术解决了无法增加测试点的困难，更重要的是它提供了一种简单而且快捷地产生测试图形的方法，利用软件工具可以将BSDL文件转换成测试图形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解决编写复杂测试库的困难。 \x0d\x0a\x0d\x0a用TAP访问口还可实现对如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在线编程（In-System Program或On Board Program）。 \x0d\x0a\x0d\x0a4 Nand-Tree \x0d\x0aNand-Tree是Inter公司发明的一种可测性设计技术。在我司产品中，现只发现82371芯片内此设计。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件，我们可将此文件转换成测试向量。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT测试要做到故障定位准、测试稳定，与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后，可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。\x0d\x0a\x0d\x0a基本的ICT近年来随着克服先进技术局限的技术而改善。例如，当集成电路变得太大以至于不可能为相当的电路覆盖率提供探测目标时，ASIC工程师开发了边界扫描技术。边界扫描(boundary scan)提供一个工业标准方法来确认在不允许探针的地方的元件连接。额外的电路设计到IC内面，允许元件以简单的方式与周围的元件通信，以一个容易检查的格式显示测试结果。\x0d\x0a\x0d\x0a另一个非矢量技术(vectorlees technique)将交流(AC)信号通过针床施加到测试中的元件。一个传感器板靠住测试中的元件表面压住，与元件引脚框形成一个电容，将信号偶合到传感器板。没有偶合信号表示焊点开路。\x0d\x0a\x0d\x0a用于大型复杂板的测试程序人工生成很费时费力，但自动测试程序产生(ATPG, automated test program generation)软件的出现解决了这一问题，该软件基于PCBA的CAD数据和装配于板上的元件规格库，自动地设计所要求的夹具和测试程序。虽然这些技术有助于缩短简单程序的生成时间，但高节点数测试程序的论证还是费时和和具有技术挑战性

三、ct设备的发展经历了哪几个主要阶段

根据扫描获取数据的不同方式，CT技术已经发展了五个阶段，即五个阶段几代CT扫描。

在第一代CT中，使用单源单射线单探测器系统，系统对物体进行平行逐步运动扫描获得N个投影值，并且通过M个刻度旋转对象。

这种扫描方法只需旋转180°的物体。

第一代CT机结构简单，成本低，图像清晰，但检测效率低，很少用于工业CT。

第二代CT的产生是在第一代CT的基础上发展起来的。

使用单光源小角度扇形光束多探头。

射线风扇的光束形状很小，探测器的数量很少，因此扇形光束不能完全包含物体的故障，并且扫描运动除了物体之外还需要M指数旋转。被检测到，射线扇形射束与探测器阵列框架相对。

测试对象还需要执行平移运动，直到它完全覆盖测试对象，并获得所需的成像数据。

第三代CT，它是单一的射线源，具有大扇形角，宽扇形光束和被检查部分的全包扫描图案。

有N个探测器对应于宽扇形光束，这确保了在一次索引中获得N个投影计数，并且该对象仅经历M个索引旋转运动。

因此，第三代CT具有单一动作，良好的控制和高效率。从理论上讲，样品只需一次旋转即可测试一个部分。

第四代CT也是一种大容量全容差，只有旋转运动的扫描方法，但它有很多探测器形成一个固定环，只能由辐射源转动实现扫描。

它的特点是扫描速度快，成本高。

卓茂科技检测设备调试车间

第五代CT是一种用于实时检测和生产控制系统的多源多检测器。

源和检测器分布在120°，工件和源不相对于彼此旋转。这种CT技术既困难又昂贵，但与其他CT效率相比，它得到了显着改善。

上述五种CT扫描方法是第二代和第三代ICT机器中最常用的方法。生成扫描，尤其是在第三代扫描模式下。

这是因为它只有一个动作并且易于控制。适用于检测被检物体直径小的中小型产品，具有成本低，检测效率高的优点。

END，本文到此结束，如果可以帮助到大家，还望关注本站哦！