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ct设备探测器发展过程(列举ct探测器的性能指标)

发布者:亚锐发布时间:2024-06-19访问量:53

这篇文章给大家聊聊关于ct设备探测器发展过程,以及列举ct探测器的性能指标对应的知识点,希望对各位有所帮助,不要忘了收藏本站哦。

本文目录

  1. ct探测器分为哪两种
  2. ct成像设备中探测器的总检测效率是指
  3. 列举ct探测器的性能指标

一、ct探测器分为哪两种

气体探测器、固体探测器。

1、气体探测器:电离室是一种常见的气体探测器,利用气体中的电离现象来检测射线的强度。在高气压充氙电离室中,当射线通过气体时,会产生电离电子,电离电子可以被探测器中的电极收集和测量。正比计数器:是一种气体探测器,利用气体中电离电子和正离子的比例来测量射线的能量。正比计数器中的电极被设置成正极和负极,当射线通过气体时,会产生电离电子和正离子,电离粒子会在电场的作用下移动并被计数器测量。

2、固体探测器:半导体探测器:半导体探测器使用半导体材料来测量射线的能量和位置。常见的半导体探测器包括硅和锗。当射线通过半导体材料时,会与材料中的原子相互作用,产生电子空穴对。电子空穴对会在探测器中产生电信号,通过测量这一些信号的强度和分布,可以确定射线的能量和位置。

二、ct成像设备中探测器的总检测效率是指

ct成像设备中探测器的总检测效率是指几何效率乘以吸收率。ct成像设备中探测器的几何效率是指探测器有效宽度除以(探测器有效宽度+无效空间)。吸收率是指ct值代表X线穿过组织被吸收后的衰减值,CT值代表X线穿过组织被吸收后的衰减值.为了定量衡量组织对于X光的吸收率,ct成像设备中探测器的作用是接收X线并将其转换为电信号。

三、列举ct探测器的性能指标

探测器的性能包括探测器单元大小数量、类型、探测效率、响应速度、余辉、输出信号强度、各探测单元的的勾性等。

探测器数目越多,采集数量越大,重建图像质量越好:探测器排数越多,采集的纵向视野越大,采集时间越短;探测单元越小,空间分辨率越高。

探测器的本质是“传感器”,其数据采集和转换过程如下:X线穿过准直器(Anti Sccatter Grid,ASG)到闪烁体(Scintillator),将其变成可见光。

然后通过光电二极管阵列(Photodiode Array),将光信号转换成电信号,然后通过以高速多通道模数转换器(ADC)为核心的读出电路,将其转换成原始数字信号,最终通过光纤传入重建柜。

CT的设备组成

CT设备主要有以下三部分:扫描部分由X线管、探测器和扫描架组成;计算机系统,将扫描收集到的信息数据进行贮存运算;图像显示和存储系统,将经计算机处理、重建的图像显示在电视屏上或用多幅照相机或激光照相机将图像摄下。

从提出到应用,CT设备也在不断的发展。探测器从原始的1个发展到多达4800个,扫描方式也从平移/旋转、旋转/旋转、旋转/固定,发展到新近开发的螺旋CT扫描(spiral CT scan)。计算机容量大、运算快,可达到立即重建图像。

由于扫描时间短,可避免运动产生的伪影,例如,呼吸运动的干扰,可提高图像质量;层面是连续的,所以不致于漏掉病变,而且可行三维重建。

关于ct设备探测器发展过程到此分享完毕,希望能帮助到您。